供应X荧光镀层测厚仪X-Strata960

X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计： 

新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的较强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间 
更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。 
距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。 
自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。 
全新的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳**大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。 
3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。 
测厚仪内置PC用户界面　 
 
 
 
技术参数
 
主要规格
 规格描述
 
X射线激发和检测
 牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
 
高分辨封气(Xe)正比计数器可获取较高的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现较佳的检出效果
 
数字脉冲处理
 4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取较高的信号采集(每秒计数量)，从而保证较好的测量统计结果
 
手动或自动透镜控制
 手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
 
自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的较佳分析聚焦距离
 
自由距离测定
 简化系统设置和维护
 
在聚焦距离范围内仅需要一个校正
 
对不规则样品更灵活的测量
 
在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可准确测量样品表面的任何一点
 
通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、准确的确定聚焦距离
 

 

附带自动透