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Si-PIN 探测器 Si-PIN是高性能的探测器，特别为X射线荧光仪器设计。干净的背景加上高峰背比使检测下限更低，并能通过不标准的校准方法得到精确结果。PIN结构使电荷收集效率提高，产生对称的高斯谱峰，没有低能量拖尾。使用牛津仪器的Si-PIN就不用延长时间来加以辨别。 电子学应用 高性能前置放大器 高性能整形放大器。根据应用选择脉冲处理参数。 探头和前置放大器的定制包 主要特征 高分辨率Si-PIN探头 珀耳帖冷却晶体和FET 晶体管低噪音重置 高质量密封包装 胶囊状大小便于密封测量 有3个不同晶体大小 高峰背比 清晰的背景 对称的高斯峰 其他应用范围 OEM仪器 X射线荧光分析仪器 便携式或台式仪 室内或室外实验或加工